کتاب الکترونیکی

میکروسکوپ الکترونی انتقالی و پراش سنجی مواد

Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

دانلود کتاب Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (به فارسی: میکروسکوپ الکترونی انتقالی و پراش سنجی مواد) نوشته شده توسط «Brent Fultz – James M. Howe»


اطلاعات کتاب میکروسکوپ الکترونی انتقالی و پراش سنجی مواد

موضوع اصلی: الکترونیک: الکترونیک

نوع: کتاب الکترونیکی

ناشر: Springer

نویسنده: Brent Fultz – James M. Howe

زبان: English

فرمت کتاب: pdf (قابل تبدیل به سایر فرمت ها)

سال انتشار: 2007

تعداد صفحه: 771

حجم کتاب: 14 مگابایت

کد کتاب: 3540738851 , 9783540738855

نوبت چاپ: 3rd

توضیحات کتاب میکروسکوپ الکترونی انتقالی و پراش سنجی مواد

این کتاب مفاهیم میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) و پراش پرتو ایکس (XRD) را توضیح می‌دهد که برای توصیف مواد مهم هستند. نسخه سوم برای پوشش پیشرفت های فنی مهم، از جمله بهبود قابل توجه اخیر در وضوح TEM، به روز شده است. این نسخه به طور قابل ملاحظه‌ای طولانی‌تر از نسخه دوم نیست، اما همه فصل‌ها برای وضوح به‌روزرسانی و بازنگری شده‌اند. فصل جدیدی در مورد روش های STEM با وضوح بالا اضافه شده است. این کتاب اصول نحوه تعامل امواج و توابع موج با اتم‌ها در جامدات و شباهت‌ها و تفاوت‌های استفاده از پرتوهای ایکس، الکترون‌ها یا نوترون‌ها را برای اندازه‌گیری‌های پراش توضیح می‌دهد. اثرات پراش نظم کریستالی، عیوب و بی نظمی در مواد به تفصیل توضیح داده شده است. هر دو مسائل عملی و نظری پوشش داده شده است. این کتاب را می توان در دوره های سطح مقدماتی یا پیشرفته استفاده کرد، زیرا بخش ها بر اساس دشواری مشخص می شوند. هر فصل شامل مجموعه ای از مسائل برای نشان دادن اصول است، و پیوست گسترده شامل تمرین های آزمایشگاهی است.


This book explains concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The third edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM. This edition is not substantially longer than the second, but all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. The book explains the fundamentals of how waves and wave functions interact with atoms in solids, and the similarities and differences of using x-rays, electrons, or neutrons for diffraction measurements. Diffraction effects of crystalline order, defects, and disorder in materials are explained in detail. Both practical and theoretical issues are covered. The book can be used in an introductory-level or advanced-level course, since sections are identified by difficulty. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises.

دانلود کتاب «میکروسکوپ الکترونی انتقالی و پراش سنجی مواد»

مبلغی که بابت خرید کتاب می‌پردازیم به مراتب پایین‌تر از هزینه‌هایی است که در آینده بابت نخواندن آن خواهیم پرداخت.

برای دریافت کد تخفیف ۲۰ درصدی این کتاب، ابتدا صفحه اینستاگرام کازرون آنلاین (@kazerun.online ) را دنبال کنید. سپس، کلمه «بلیان» را در دایرکت ارسال کنید تا کد تخفیف به شما ارسال شود.