دانلود کتاب Thin film analysis by X-ray scattering (به فارسی: تجزیه و تحلیل لایه نازک با پراکندگی اشعه ایکس) نوشته شده توسط «Mario Birkholz»
اطلاعات کتاب تجزیه و تحلیل لایه نازک با پراکندگی اشعه ایکس
موضوع اصلی: تحلیل و بررسی
نوع: کتاب الکترونیکی
ناشر: Wiley-VCH
نویسنده: Mario Birkholz
زبان: English
فرمت کتاب: pdf (قابل تبدیل به سایر فرمت ها)
سال انتشار: 2006
تعداد صفحه: 370
حجم کتاب: 5 مگابایت
کد کتاب: 9783527310524 , 3527310525
دانلود کتاب «تجزیه و تحلیل لایه نازک با پراکندگی اشعه ایکس»

برای دریافت کد تخفیف ۲۰ درصدی این کتاب، ابتدا صفحه اینستاگرام کازرون آنلاین (@kazerun.online ) را دنبال کنید. سپس، کلمه «بلیان» را در دایرکت ارسال کنید تا کد تخفیف به شما ارسال شود.