کتاب الکترونیکی

میکروسکوپ نیروی روبشی با کاربرد در نیروهای مغناطیسی و اتمی الکتریکی

Scanning Force Microscopy With Applications to Electric Magnetic and Atomic Forces

دانلود کتاب Scanning Force Microscopy With Applications to Electric Magnetic and Atomic Forces (به فارسی: میکروسکوپ نیروی روبشی با کاربرد در نیروهای مغناطیسی و اتمی الکتریکی) نوشته شده توسط «Dror Sarid»

اطلاعات کتاب میکروسکوپ نیروی روبشی با کاربرد در نیروهای مغناطیسی و اتمی الکتریکی

موضوع اصلی: الکتریسیته و مغناطیس

نوع: کتاب الکترونیکی

ناشر: Oxford University Press, USA

نویسنده: Dror Sarid

زبان: English

فرمت کتاب: pdf (قابل تبدیل به سایر فرمت ها)

سال انتشار: 1994

تعداد صفحه: 284

حجم کتاب: 12 مگابایت

کد کتاب: 019509204X , 9780195092042 , 9781423734567

نوبت چاپ: Rev Sub

توضیحات کتاب میکروسکوپ نیروی روبشی با کاربرد در نیروهای مغناطیسی و اتمی الکتریکی

از زمان اختراع خود در سال 1982، میکروسکوپ تونل زنی روبشی (STM) کاربران را قادر می سازد تا تصاویری را که ساختار الکترونیکی سطحی را با وضوح اتمی منعکس می کنند، بدست آورند. این فناوری به عنوان یک ابزار مشخصه با کاربرد در فیزیک سطح، شیمی، علم مواد، علوم زیستی و رسانه های ذخیره سازی داده ضروری است. همچنین پتانسیل زیادی در زمینه هایی مانند صنایع نیمه هادی و کنترل کیفیت نوری نشان داده است. Microscopy Force Scanning, Revised Edition، بررسی نسخه قبلی را از بسیاری از موضوعات به سرعت در حال توسعه در مورد نگاشت انواع نیروها در سطوح، از جمله نظریه پایه، ابزار دقیق، و کاربردها به روز می کند. همچنین شامل تحقیقات جدید مهم در STM و کتابشناسی کاملاً اصلاح شده است. محققان دانشگاهی و صنعتی که از STM استفاده می کنند، یا مایل به دانستن بیشتر در مورد پتانسیل آن هستند، این کتاب را مقدمه ای عالی برای این زمینه به سرعت در حال توسعه خواهند یافت.

Since its invention in 1982, scanning tunneling microscopy (STM) has enabled users to obtain images reflecting surface electronic structure with atomic resolution. This technology has proved indispensable as a characterization tool with applications in surface physics, chemistry, materials science, bio-science, and data storage media. It has also shown great potential in areas such as the semiconductor and optical quality control industries. Scanning Force Microscopy, Revised Edition updates the earlier edition’s survey of the many rapidly developing subjects concerning the mapping of a variety of forces across surfaces, including basic theory, instrumentation, and applications. It also includes important new research in STM and a thoroughly revised bibliography. Academic and industrial researchers using STM, or wishing to know more about its potential, will find this book an excellent introduction to this rapidly developing field.

دانلود کتاب «میکروسکوپ نیروی روبشی با کاربرد در نیروهای مغناطیسی و اتمی الکتریکی»

مبلغی که بابت خرید کتاب می‌پردازیم به مراتب پایین‌تر از هزینه‌هایی است که در آینده بابت نخواندن آن خواهیم پرداخت.
برچسب ها
مبلغی که بابت خرید کتاب می‌پردازیم به مراتب پایین‌تر از هزینه‌هایی است که در آینده بابت نخواندن آن خواهیم پرداخت.
کتابخانه دیجیتال بَلیان