دانلود کتاب Power-Constrained Testing Of Vlsi Circuits (به فارسی: تست قدرت محدود مدارهای Vlsi) نوشته شده توسط «Richard J. Peterson»
اطلاعات کتاب تست قدرت محدود مدارهای Vlsi
موضوع اصلی: الکترونیک: VLSI
نوع: کتاب الکترونیکی
ناشر: McGraw-Hill Companies
نویسنده: Richard J. Peterson
زبان: English
فرمت کتاب: pdf (قابل تبدیل به سایر فرمت ها)
سال انتشار: 2000
تعداد صفحه: 191
حجم کتاب: 11 مگابایت
کد کتاب: 0071358854 , 9781402073502 , 9780071358859 , 140207235X , 9781402072352
نوبت چاپ: 1st
توضیحات کتاب تست قدرت محدود مدارهای Vlsi
این کتاب بر تکنیکهایی برای به حداقل رساندن اتلاف توان در طول کاربرد آزمایشی در سطوح منطقی و انتقال ثبت انتزاع جریان طراحی یکپارچه (VLSI) در مقیاس بسیار بزرگ تمرکز دارد. پس از بررسی تکنیکهای موجود برای آزمایش محدود توان مدارهای VLSI، چندین تکنیک اتوماسیون آزمایشی برای کاهش توان در مدارهای ترتیبی مبتنی بر اسکن و مسیرهای داده BIST ارائه شدهاند. نیکولیچی وابسته به دانشگاه مک مستر کانادا است. الهاشمی وابسته به دانشگاه ساوتهمپتون انگلستان است.
دانلود کتاب «تست قدرت محدود مدارهای Vlsi»

برای دریافت کد تخفیف ۲۰ درصدی این کتاب، ابتدا صفحه اینستاگرام کازرون آنلاین (@kazerun.online ) را دنبال کنید. سپس، کلمه «بلیان» را در دایرکت ارسال کنید تا کد تخفیف به شما ارسال شود.