کتاب الکترونیکی

تست قدرت محدود مدارهای Vlsi

Power-Constrained Testing Of Vlsi Circuits

دانلود کتاب Power-Constrained Testing Of Vlsi Circuits (به فارسی: تست قدرت محدود مدارهای Vlsi) نوشته شده توسط «Richard J. Peterson»


اطلاعات کتاب تست قدرت محدود مدارهای Vlsi

موضوع اصلی: الکترونیک: VLSI

نوع: کتاب الکترونیکی

ناشر: McGraw-Hill Companies

نویسنده: Richard J. Peterson

زبان: English

فرمت کتاب: pdf (قابل تبدیل به سایر فرمت ها)

سال انتشار: 2000

تعداد صفحه: 191

حجم کتاب: 11 مگابایت

کد کتاب: 0071358854 , 9781402073502 , 9780071358859 , 140207235X , 9781402072352

نوبت چاپ: 1st

توضیحات کتاب تست قدرت محدود مدارهای Vlsi

این کتاب بر تکنیک‌هایی برای به حداقل رساندن اتلاف توان در طول کاربرد آزمایشی در سطوح منطقی و انتقال ثبت انتزاع جریان طراحی یکپارچه (VLSI) در مقیاس بسیار بزرگ تمرکز دارد. پس از بررسی تکنیک‌های موجود برای آزمایش محدود توان مدارهای VLSI، چندین تکنیک اتوماسیون آزمایشی برای کاهش توان در مدارهای ترتیبی مبتنی بر اسکن و مسیرهای داده BIST ارائه شده‌اند. نیکولیچی وابسته به دانشگاه مک مستر کانادا است. الهاشمی وابسته به دانشگاه ساوتهمپتون انگلستان است.


This book focuses on techniques for minimizing power dissipation during test application at logic and register-transfer levels of abstraction of the very large scale integrated (VLSI) design flow. After a survey of existing techniques for power constrained testing of VLSI circuits, several test automation techniques are presented for reducing power in scan-based sequential circuits and BIST data paths. Nicolici is affiliated with McMaster University, Canada. Al-Hashimi is affiliated with the University of Southampton, UK.

دانلود کتاب «تست قدرت محدود مدارهای Vlsi»

مبلغی که بابت خرید کتاب می‌پردازیم به مراتب پایین‌تر از هزینه‌هایی است که در آینده بابت نخواندن آن خواهیم پرداخت.

برای دریافت کد تخفیف ۲۰ درصدی این کتاب، ابتدا صفحه اینستاگرام کازرون آنلاین (@kazerun.online ) را دنبال کنید. سپس، کلمه «بلیان» را در دایرکت ارسال کنید تا کد تخفیف به شما ارسال شود.