کتاب الکترونیکی

تجزیه و تحلیل لایه نازک در مقیاس نانو: مبانی و تکنیک ها

Nanoscale Thin Film Analysis: Fundamentals and Techniques

دانلود کتاب Nanoscale Thin Film Analysis: Fundamentals and Techniques (به فارسی: تجزیه و تحلیل لایه نازک در مقیاس نانو: مبانی و تکنیک ها) نوشته شده توسط «Terry L. Alford – L.C. Feldman – James W. Mayer»

اطلاعات کتاب تجزیه و تحلیل لایه نازک در مقیاس نانو: مبانی و تکنیک ها

موضوع اصلی: نانوتکنولوژی

نوع: کتاب الکترونیکی

ناشر: Springer

نویسنده: Terry L. Alford – L.C. Feldman – James W. Mayer

زبان: English

فرمت کتاب: pdf (قابل تبدیل به سایر فرمت ها)

سال انتشار: 2007

تعداد صفحه: 349

حجم کتاب: 5 مگابایت

کد کتاب: 0387292608

نوبت چاپ: 1

توضیحات کتاب تجزیه و تحلیل لایه نازک در مقیاس نانو: مبانی و تکنیک ها

علم و فناوری مدرن، از علم مواد گرفته تا توسعه مدارهای مجتمع، به سمت مقیاس نانو هدایت شده است. از لایه های نازک گرفته تا ترانزیستورهای اثر میدانی، تاکید بر کاهش ابعاد از میکرو به مقیاس نانو است. مبانی تحلیل فیلم در مقیاس نانو بر تجزیه و تحلیل ساختار و ترکیب سطح و عمق چند ده تا صد نانومتری بیرونی متمرکز است. این کتاب تکنیک‌های مشخص‌سازی را برای تعیین کمیت ساختار، ترکیب و توزیع عمق مواد با استفاده از ذرات و فوتون‌های پرانرژی توصیف می‌کند. این واکنش های القایی منجر به گسیل انواع ذرات و فوتون های شناسایی شده می شود. این انرژی و شدت پرتوهای شناسایی شده است که اساس خصوصیات مواد است. مجموعه ای از تکنیک های تجربی مورد استفاده در تجزیه و تحلیل مواد در مقیاس نانو، طیف وسیعی از ذرات برخوردی و برهمکنش های پرتو شناسایی شده را پوشش می دهد. برهمکنش های مهمی مانند برخورد اتمی، پراکندگی عقب رادرفورد، کانال یونی، پراش، جذب فوتون، انتقال تابشی و غیر تشعشعی، و واکنش های هسته ای را شامل می شود. . انواع تکنیک های میکروسکوپ کاوشگر تحلیلی و روبشی به تفصیل ارائه شده است.

Modern science and technology, from materials science to integrated circuit development, is directed toward the nanoscale. From thin films to field effect transistors, the emphasis is on reducing dimensions from the micro to the nanoscale. Fundamentals of Nanoscale Film Analysis concentrates on analysis of the structure and composition of the surface and the outer few tens to hundred nanometers in depth. It describes characterization techniques to quantify the structure, composition and depth distribution of materials with the use of energetic particles and photons.The book describes the fundamentals of materials characterization from the standpoint of the incident photons or particles which interrogate nanoscale structures. These induced reactions lead to the emission of a variety of detected of particles and photons. It is the energy and intensity of the detected beams that is the basis of the characterization of the materials. The array of experimental techniques used in nanoscale materials analysis covers a wide range of incident particle and detected beam interactions.Included are such important interactions as atomic collisions, Rutherford backscattering, ion channeling, diffraction, photon absorption, radiative and nonradiative transitions, and nuclear reactions. A variety of analytical and scanning probe microscopy techniques are presented in detail.

دانلود کتاب «تجزیه و تحلیل لایه نازک در مقیاس نانو: مبانی و تکنیک ها»

مبلغی که بابت خرید کتاب می‌پردازیم به مراتب پایین‌تر از هزینه‌هایی است که در آینده بابت نخواندن آن خواهیم پرداخت.

برای دریافت کد تخفیف ۲۰ درصدی این کتاب، ابتدا صفحه اینستاگرام کازرون آنلاین (@kazerun.online ) را دنبال کنید. سپس، کلمه «بلیان» را در دایرکت ارسال کنید تا کد تخفیف به شما ارسال شود.

برچسب ها
مبلغی که بابت خرید کتاب می‌پردازیم به مراتب پایین‌تر از هزینه‌هایی است که در آینده بابت نخواندن آن خواهیم پرداخت.
کتابخانه دیجیتال بَلیان