
دانلود کتاب High resolution X-ray diffractometry and topography (به فارسی: پراش سنجی و توپوگرافی اشعه ایکس با وضوح بالا) نوشته شده توسط «D.K. Bowen – Brian K. Tanner»
اطلاعات کتاب پراش سنجی و توپوگرافی اشعه ایکس با وضوح بالا
موضوع اصلی: هنرهای گرافیک
نوع: کتاب الکترونیکی
ناشر: Taylor & Francis
نویسنده: D.K. Bowen – Brian K. Tanner
زبان: English
فرمت کتاب: pdf (قابل تبدیل به سایر فرمت ها)
سال انتشار: 1998
تعداد صفحه: 278
حجم کتاب: 12 مگابایت
کد کتاب: 0850667585 , 9780850667585
نوبت چاپ: 1
توضیحات کتاب پراش سنجی و توپوگرافی اشعه ایکس با وضوح بالا
استفاده از مواد الکترونیکی تقاضا برای تکنیک های قابل اعتماد برای بررسی این مواد ایجاد کرده است. این کتاب به منطقه پراش اشعه ایکس و تکنیک های مدرن موجود برای به کارگیری در تحقیقات می پردازد.
دانلود کتاب «پراش سنجی و توپوگرافی اشعه ایکس با وضوح بالا»

📖 خرید این کتاب
برای دریافت فایل و اطلاع از قیمت، روی یکی از دکمههای زیر کلیک کنید تا پیام آماده برای شما ارسال شود:
پس از ارسال پیام، قیمت و لینک دریافت فایل در اسرع وقت برای شما ارسال خواهد شد.