کتاب الکترونیکی

پراش سنجی و توپوگرافی اشعه ایکس با وضوح بالا

High resolution X-ray diffractometry and topography

دانلود کتاب High resolution X-ray diffractometry and topography (به فارسی: پراش سنجی و توپوگرافی اشعه ایکس با وضوح بالا) نوشته شده توسط «D.K. Bowen – Brian K. Tanner»


اطلاعات کتاب پراش سنجی و توپوگرافی اشعه ایکس با وضوح بالا

موضوع اصلی: هنرهای گرافیک

نوع: کتاب الکترونیکی

ناشر: Taylor & Francis

نویسنده: D.K. Bowen – Brian K. Tanner

زبان: English

فرمت کتاب: pdf (قابل تبدیل به سایر فرمت ها)

سال انتشار: 1998

تعداد صفحه: 278

حجم کتاب: 12 مگابایت

کد کتاب: 0850667585 , 9780850667585

نوبت چاپ: 1

توضیحات کتاب پراش سنجی و توپوگرافی اشعه ایکس با وضوح بالا

استفاده از مواد الکترونیکی تقاضا برای تکنیک های قابل اعتماد برای بررسی این مواد ایجاد کرده است. این کتاب به منطقه پراش اشعه ایکس و تکنیک های مدرن موجود برای به کارگیری در تحقیقات می پردازد.


The application of electronic materials has created a demand for reliable techniques for examining these materials. This book looks at the area of x-ray diffraction and the modern techniques available for deployment in research.

دانلود کتاب «پراش سنجی و توپوگرافی اشعه ایکس با وضوح بالا»

مبلغی که بابت خرید کتاب می‌پردازیم به مراتب پایین‌تر از هزینه‌هایی است که در آینده بابت نخواندن آن خواهیم پرداخت.

📖 خرید این کتاب

برای دریافت فایل و اطلاع از قیمت، روی یکی از دکمه‌های زیر کلیک کنید تا پیام آماده برای شما ارسال شود:

پس از ارسال پیام، قیمت و لینک دریافت فایل در اسرع وقت برای شما ارسال خواهد شد.