کتاب الکترونیکی

پراش سنجی و توپوگرافی اشعه ایکس با وضوح بالا

High resolution X-ray diffractometry and topography

دانلود کتاب High resolution X-ray diffractometry and topography (به فارسی: پراش سنجی و توپوگرافی اشعه ایکس با وضوح بالا) نوشته شده توسط «D.K. Bowen – Brian K. Tanner»


اطلاعات کتاب پراش سنجی و توپوگرافی اشعه ایکس با وضوح بالا

موضوع اصلی: هنرهای گرافیک

نوع: کتاب الکترونیکی

ناشر: Taylor & Francis

نویسنده: D.K. Bowen – Brian K. Tanner

زبان: English

فرمت کتاب: pdf (قابل تبدیل به سایر فرمت ها)

سال انتشار: 1998

تعداد صفحه: 278

حجم کتاب: 12 مگابایت

کد کتاب: 0850667585 , 9780850667585

نوبت چاپ: 1

توضیحات کتاب پراش سنجی و توپوگرافی اشعه ایکس با وضوح بالا

استفاده از مواد الکترونیکی تقاضا برای تکنیک های قابل اعتماد برای بررسی این مواد ایجاد کرده است. این کتاب به منطقه پراش اشعه ایکس و تکنیک های مدرن موجود برای به کارگیری در تحقیقات می پردازد.


The application of electronic materials has created a demand for reliable techniques for examining these materials. This book looks at the area of x-ray diffraction and the modern techniques available for deployment in research.

دانلود کتاب «پراش سنجی و توپوگرافی اشعه ایکس با وضوح بالا»

مبلغی که بابت خرید کتاب می‌پردازیم به مراتب پایین‌تر از هزینه‌هایی است که در آینده بابت نخواندن آن خواهیم پرداخت.

برای دریافت کد تخفیف ۲۰ درصدی این کتاب، ابتدا صفحه اینستاگرام کازرون آنلاین (@kazerun.online ) را دنبال کنید. سپس، کلمه «بلیان» را در دایرکت ارسال کنید تا کد تخفیف به شما ارسال شود.