دانلود کتاب Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits (به فارسی: عیب یابی مدارهای مجتمع آنالوگ) نوشته شده توسط «Prithviraj Kabisatpathy – Alok Barua – Satyabroto Sinha»
اطلاعات کتاب عیب یابی مدارهای مجتمع آنالوگ
موضوع اصلی: الکترونیک: رادیو
نوع: کتاب الکترونیکی
ناشر: Springer
نویسنده: Prithviraj Kabisatpathy – Alok Barua – Satyabroto Sinha
زبان: English
فرمت کتاب: pdf (قابل تبدیل به سایر فرمت ها)
سال انتشار: 2005
تعداد صفحه: 183
حجم کتاب: 7 مگابایت
کد کتاب: 9780387257426 , 038725742X
نوبت چاپ: 1
توضیحات کتاب عیب یابی مدارهای مجتمع آنالوگ
سیستم روی تراشه (SOC) دارای مدارهای دیجیتال و آنالوگ به طور فزاینده ای در صنعت تولید مدارهای مجتمع رایج شده است. تست های الکترونیکی به دو دسته سیگنال دیجیتال، آنالوگ و مختلط طبقه بندی می شوند. روش های فعلی برای آزمایش مدارهای دیجیتال به خوبی توسعه یافته است. در مقابل، روش‌های آزمایش مدارهای آنالوگ به دلیل ماهیت پیچیده سیگنال‌های آنالوگ نسبتاً توسعه نیافته باقی می‌مانند. در مقایسه با تست دیجیتال، تست آنالوگ از نظر روش‌شناسی و ابزار بسیار عقب‌تر است و بنابراین نیازمند تلاش‌های تحقیق و توسعه قابل توجهی است. و همچنین مهندسان شاغل هدف این کتاب بررسی تست و تشخیص عیب قسمت آنالوگ و آنالوگ مدارهای سیگنال مختلط می باشد. پیشینه ای در مدار مجتمع آنالوگ، شبکه عصبی مصنوعی مطلوب است اما ضروری نیست.
این متن تست و تشخیص خطای مدارهای دوقطبی و نیمه هادی اکسید فلزی (MOS) را پوشش می دهد. مدل خطای دستگاه ها در حوزه آنالوگ در متن معرفی شده است. تولیدات محرک آزمون نیز به تفصیل مورد بحث قرار گرفته است. تأیید تجربی برخی از تکنیک‌های هنری نیز در کتاب ارائه شده است. همچنین حاوی مشکلاتی است که می توان از آنها به عنوان آزمون یا تکلیف استفاده کرد. این کتاب خواننده را قادر می‌سازد تا یک مدار آنالوگ را که در فناوری دوقطبی یا MOS پیاده‌سازی شده است، آزمایش کند.
System on Chip (SOC) having both digital and analog circuits has become increasingly prevalent in integrated circuit manufacturing industry. Electronic tests are classified as digital, analog and mixed signal. Current methodologies for the testing of digital circuits are well developed. In contrast, methodologies for the testing of analog circuits remain relatively underdeveloped due to the complex nature of analog signals. Compared to digital testing, analog testing lags far behind in methodologies and tools and therefore demands substantial research and development effort.
Fault Diagnosis of Analog Integrated Circuits is a textbook for advanced undergraduate and graduate level students as well as practicing engineers. The objective of this book is to study the testing and fault diagnosis of analog and analog part of mixed signal circuits. A background in analog integrated circuit, artificial neural network is desirable but not essential.
The text covers the testing and fault diagnosis of both bipolar and Metal Oxide Semiconductor (MOS) circuits. Fault model of the devices in analog domain has been introduced in the text. The test stimulus generations are also discussed in details. Experimental verification of some state of the art techniques has also been presented in the book. It also contains problems that can be used as quiz or homework. This book enables the reader to test an analog circuit that is implemented either in bipolar or MOS technology.
دانلود کتاب «عیب یابی مدارهای مجتمع آنالوگ»
