دانلود کتاب Data mining and diagnosing IC fails (به فارسی: داده کاوی و تشخیص آی سی با شکست مواجه می شود) نوشته شده توسط «Leendert M. Huisman»
اطلاعات کتاب داده کاوی و تشخیص آی سی با شکست مواجه می شود
موضوع اصلی: سازمان و پردازش داده ها
نوع: کتاب الکترونیکی
ناشر: Springer
نویسنده: Leendert M. Huisman
زبان: English
فرمت کتاب: pdf (قابل تبدیل به سایر فرمت ها)
سال انتشار: 2005
تعداد صفحه: 459
حجم کتاب: 20 مگابایت
کد کتاب: 0387249931 , 9780387249933 , 9780387263519 , 0387263519
نوبت چاپ: 1
توضیحات کتاب داده کاوی و تشخیص آی سی با شکست مواجه می شود
تکنیک‌های زیادی برای تجزیه و تحلیل شکست‌های IC وجود دارد، اما آنها در ادبیات تست و تشخیص IC حرفه‌ای، و در کتاب‌های راهنمای آمار و داده‌کاوی مختلف پراکنده شده‌اند. علاوه بر این، بسیاری از تکنیک‌های داده کاوی که در سایر محیط‌های تجزیه و تحلیل داده استاندارد هستند و برای تجزیه و تحلیل شکست‌های IC مناسب هستند، هنوز برای این منظور استفاده نشده‌اند.
داده کاوی و تشخیص خرابی های آی سی به مشکل به دست آوردن حداکثر اطلاعات از داده های خرابی مدار مجتمع (عملکردی) در مورد نقص هایی که باعث خرابی شده اند می پردازد. در بالاترین سطح از کدهای مرتب‌سازی صرف شروع می‌شود و از طریق تکنیک‌های مختلف داده‌کاوی تا تشخیص دقیق منطقی ادامه می‌یابد. رویکردهای مختلفی که در این کتاب مورد بحث قرار می‌گیرند، دارای یک زیربنای نظری کامل هستند، اما به سمت کاربردهایی بر روی داده‌های شکست واقعی زندگی و آی‌سی‌های پیشرفته طراحی شده‌اند. این کتاب تعداد زیادی از تکنیک‌های تحلیلی را گرد هم می‌آورد که برای داده‌های خرابی IC مناسب هستند، اما در جای دیگری در یک مکان واحد در دسترس نیستند. بسیاری از تکنیک ها، در واقع، اخیراً در کنفرانس های فنی ارائه شده اند.
هدف این کتاب این است که تعداد زیادی از تکنیک های تجزیه و تحلیل، داده کاوی و تشخیص را در یک مکان گرد هم آورد که ثابت شده است در تجزیه و تحلیل شکست های IC مفید هستند. شرح تکنیک‌ها و روال‌های تجزیه و تحلیل به اندازه کافی دقیق است که مهندسان حرفه‌ای تولید می‌توانند آنها را در محیط کاری خود پیاده‌سازی کنند.
There are many techniques for analyzing IC fails, but they are scattered over the professional IC test and diagnosis literature, and in various statistics and data mining handbooks. Moreover, many data mining techniques that are standard in other data analysis environments, and that are appropriate for analyzing IC fails, have not yet been employed for that purpose.
Data Mining and Diagnosing IC Fails addresses the problem of obtaining maximum information from (functional) integrated circuit fail data about the defects that caused the fails. It starts at the highest level from mere sort codes, and drills down via various data mining techniques to detailed logic diagnosis. The various approaches discussed in this book have a thorough theoretical underpinning, but are geared towards applications on real life fail data and state of the art ICs. This book brings together a large number of analysis techniques that are suitable for IC fail data, but that are not available elsewhere in a single place. Several of the techniques, in fact, have been presented only recently in technical conferences.
The purpose of the book is to bring together in one place a large number of analysis, data mining and diagnosis techniques that have proven to be useful in analyzing IC fails. The descriptions of the techniques and analysis routines is sufficiently detailed that professional manufacturing engineers can implement them in their own work environment.
دانلود کتاب «داده کاوی و تشخیص آی سی با شکست مواجه می شود»
