دانلود کتاب Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies (به فارسی: روش‌های تست پیشرفته برای SRAM: راه‌حل‌های موثر برای تشخیص خطای دینامیکی در فناوری‌های مقیاس نانو) نوشته شده توسط «Alberto Bosio – Luigi Dilillo – Patrick Girard – Serge Pravossoudovitch – Arnaud Virazel (auth.)»
اطلاعات کتاب روش‌های تست پیشرفته برای SRAM: راه‌حل‌های موثر برای تشخیص خطای دینامیکی در فناوری‌های مقیاس نانو
موضوع اصلی: نانوتکنولوژی
نوع: کتاب الکترونیکی
ناشر: Springer US
نویسنده: Alberto Bosio – Luigi Dilillo – Patrick Girard – Serge Pravossoudovitch – Arnaud Virazel (auth.)
زبان: English
فرمت کتاب: pdf (قابل تبدیل به سایر فرمت ها)
سال انتشار: 2010
تعداد صفحه: 171
حجم کتاب: 6 مگابایت
کد کتاب: 1441909370 , 9781441909374 , 9781441909381
نوبت چاپ: 1
توضیحات کتاب روش‌های تست پیشرفته برای SRAM: راه‌حل‌های موثر برای تشخیص خطای دینامیکی در فناوری‌های مقیاس نانو
روش‌های آزمایش پیشرفته برای SRAM: راه‌حل‌های مؤثر برای تشخیص عیب دینامیکی در فناوری‌های مقیاس نانو
توسط:
Alberto Bosio
Luigi Dilillo
پاتریک ژیرارد
سرژ پراووسودوویچ
آرنود ویرازل
الکترونیک مدرن به فناوری های نانومقیاس بستگی دارد که چالش های جدیدی را از نظر آزمایش و تشخیص ارائه می کند. حافظه ها به ویژه در معرض نقص هستند زیرا از محدودیت های فناوری برای بدست آوردن بالاترین تراکم استفاده می کنند. این کتاب راهنمای ارزشمندی برای تست و تشخیص آخرین نسل SRAM، یکی از پرکاربردترین انواع حافظه است. روش‌های کلاسیک برای آزمایش حافظه برای مدیریت به اصطلاح «عیب‌های استاتیک» طراحی شده‌اند، اما این راه‌حل‌های آزمایشی برای خطاهایی که در جدیدترین فناوری‌های بسیار عمیق زیر میکرون (VDSM) در حال ظهور هستند، کافی نیستند. این خطاهای جدید که به آنها “عیب های دینامیکی” گفته می شود، توسط الگوریتم های کلاسیک پوشش داده نمی شوند و نیاز به تست و راه حل های تشخیص اختصاصی ارائه شده در این کتاب دارند.
Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
by:
Alberto Bosio
Luigi Dilillo
Patrick Girard
Serge Pravossoudovitch
Arnaud Virazel
Modern electronics depends on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnosis. Memories are particularly prone to defects since they exploit the technology limits to get the highest density. This book is an invaluable guide to the testing and diagnosis of the latest generation of SRAM, one of the most widely used type of memories. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called “static faults”, but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies. These new faults, referred to as “dynamic faults”, are not covered by classical algorithms and require the dedicated test and diagnosis solutions presented in this book.
- First book to present complete, state-of-the-art coverage of dynamic fault testing for SRAM memories;
- Presents content using a “bottom-up” approach, from the study of the electrical causes of malfunctions up to the generation of smart test strategies;
- Includes case studies covering all memory components (core-cells, address decoders, write drivers, sense amplifiers, etc.);
- Proposes an exhaustive analysis of resistive-open defects in each memory component and the resulting dynamic fault modeling.
برای دریافت کد تخفیف ۲۰ درصدی این کتاب، ابتدا صفحه اینستاگرام کازرون آنلاین (@kazerun.online ) را دنبال کنید. سپس، کلمه «بلیان» را در دایرکت ارسال کنید تا کد تخفیف به شما ارسال شود.