دانلود کتاب Advanced Experimental Methods for Noise Research in Nanoscale Electronic Devices (به فارسی: روش‌های آزمایشی پیشرفته برای تحقیقات نویز در دستگاه‌های الکترونیکی در مقیاس نانو) نوشته شده توسط «Josef Sikula – Michael Levinshtein»
اطلاعات کتاب روش‌های آزمایشی پیشرفته برای تحقیقات نویز در دستگاه‌های الکترونیکی در مقیاس نانو
موضوع اصلی: فناوری نانو
نوع: کتاب الکترونیکی
ناشر: Springer
نویسنده: Josef Sikula – Michael Levinshtein
زبان: English
فرمت کتاب: pdf (قابل تبدیل به سایر فرمت ها)
سال انتشار: 2004
تعداد صفحه: 370
حجم کتاب: 5 مگابایت
کد کتاب: 9781402021695 , 1402021690
نوبت چاپ: 1
توضیحات کتاب روش‌های آزمایشی پیشرفته برای تحقیقات نویز در دستگاه‌های الکترونیکی در مقیاس نانو
بحثی درباره روش‌های آزمایشی اخیراً توسعه‌یافته برای تحقیقات نویز در دستگاه‌های الکترونیکی در مقیاس نانو، که توسط متخصصان حمل‌ونقل و پدیده‌های تصادفی در فیزیک در مقیاس نانو انجام شده است. رویکرد توصیف شده ایجاد روش هایی برای مشاهدات تجربی منابع نویز، محلی سازی و طیف فرکانس آنها، ولتاژ-جریان و وابستگی های حرارتی است. دانش فعلی ما از روش‌های اندازه‌گیری برای دستگاه‌های مزوسکوپی برای شناسایی مسیرهای تحقیقات آینده، مربوط به اثرات کاهش مقیاس خلاصه می‌شود.
جهت تحقیقات آینده در مورد پدیده های نوسان در دستگاه های کوانتومی و سیم کوانتومی مشخص شده است. دستگاه های الکترونیکی در مقیاس نانو اجزای اساسی برای الکترونیک قرن بیست و یکم خواهند بود. از این منظر نسبت سیگنال به نویز یک پارامتر بسیار مهم برای کاربرد دستگاه است. از آنجایی که نویز یک شاخص کیفیت و قابلیت اطمینان نیز می باشد، روش های آزمایشی در آینده کاربرد گسترده ای خواهند داشت.
A discussion of recently developed experimental methods for noise research in nanoscale electronic devices, conducted by specialists in transport and stochastic phenomena in nanoscale physics. The approach described is to create methods for experimental observations of noise sources, their localization and their frequency spectrum, voltage-current and thermal dependences. Our current knowledge of measurement methods for mesoscopic devices is summarized to identify directions for future research, related to downscaling effects.
The directions for future research into fluctuation phenomena in quantum dot and quantum wire devices are specified. Nanoscale electronic devices will be the basic components for electronics of the 21st century. From this point of view the signal-to-noise ratio is a very important parameter for the device application. Since the noise is also a quality and reliability indicator, experimental methods will have a wide application in the future.
دانلود کتاب «روش‌های آزمایشی پیشرفته برای تحقیقات نویز در دستگاه‌های الکترونیکی در مقیاس نانو»
برای دریافت کد تخفیف ۲۰ درصدی این کتاب، ابتدا صفحه اینستاگرام کازرون آنلاین (@kazerun.online ) را دنبال کنید. سپس، کلمه «بلیان» را در دایرکت ارسال کنید تا کد تخفیف به شما ارسال شود.