کتاب الکترونیکی

تصویربرداری، دستکاری و اندازه‌گیری‌های طیف‌سنجی نانومغناطیس‌ها با میکروسکوپ نیروی مغناطیسی

Imaging, Manipulation, and Spectroscopic Measurements of Nanomagnets by Magnetic Force Microscopy

دانلود کتاب Imaging, Manipulation, and Spectroscopic Measurements of Nanomagnets by Magnetic Force Microscopy (به فارسی: تصویربرداری، دستکاری و اندازه‌گیری‌های طیف‌سنجی نانومغناطیس‌ها با میکروسکوپ نیروی مغناطیسی) نوشته شده توسط «Zhu X. – Grütter P.»


اطلاعات کتاب تصویربرداری، دستکاری و اندازه‌گیری‌های طیف‌سنجی نانومغناطیس‌ها با میکروسکوپ نیروی مغناطیسی

موضوع اصلی: الکتریسیته و مغناطیس

نوع: کتاب الکترونیکی

نویسنده: Zhu X. – Grütter P.

زبان: English

فرمت کتاب: pdf (قابل تبدیل به سایر فرمت ها)

سال انتشار: 2004

تعداد صفحه: 6

حجم کتاب: 1 مگابایت

توضیحات کتاب تصویربرداری، دستکاری و اندازه‌گیری‌های طیف‌سنجی نانومغناطیس‌ها با میکروسکوپ نیروی مغناطیسی

میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM) یک تکنیک به خوبی تثبیت شده برای تصویربرداری از ساختارهای مغناطیسی ذرات کوچک مغناطیسی است. در همکاری با میدان های مغناطیسی خارجی، MFM می تواند برای مطالعه مکانیسم سوئیچینگ مغناطیسی ذرات مغناطیسی به اندازه زیر میکرومتر مورد استفاده قرار گیرد. تکنیک های مختلف MFM اندازه گیری منحنی پسماند یک ذره را امکان پذیر می کند، که سپس می تواند با اندازه گیری های مجموعه مقایسه شود. مزیت استفاده از حلقه‌های پسماند ساخته‌شده توسط MFM این است که اصولاً می‌توان منشأ پراکندگی در میدان‌های سوئیچینگ را درک کرد. همچنین امکان مشاهده مستقیم همبستگی بین ذرات مغناطیسی از طریق تصویربرداری دقیق و کنترل میدان مغناطیسی خارجی وجود دارد. در تمام این اندازه‌گیری‌ها، باید توجه شود تا از مصنوعات ناشی از میدان مغناطیسی اجتناب‌ناپذیر اجتناب شود. کنترل را می توان با بهینه سازی حالت عملکرد MFM و همچنین پارامترهای نوک به دست آورد. حتی می توان از میدان سرگردان نوک برای دستکاری موضعی و بازتولید حالت ممان مغناطیسی ذرات کوچک استفاده کرد. در این مقاله، ما این مفاهیم و مسائل را با مطالعه نانوذرات مغناطیسی با الگوی لیتوگرافی مختلف نشان می‌دهیم، بنابراین تطبیق پذیری MFM برای تصویربرداری، دستکاری، و اندازه‌گیری‌های طیف‌سنجی ذرات کوچک را نشان می‌دهیم.


Magnetic force microscopy (MFM) is a well-established technique for imaging themagnetic structures of small magnetic particles. In cooperation with external magneticfields, MFM can be used to study the magnetization switching mechanism ofsubmicrometer-sized magnetic particles.Various MFM techniques allow the measurementof a hysteresis curve of an individual particle, which can then be compared toensemble measurements. The advantage of using MFM-constructed hysteresis loops isthat one can in principle understand the origin of dispersion in switching fields. It is alsopossible to directly observe the correlation between magnetic particles through carefulimaging and control of the external magnetic field. In all of these measurements,attention needs to be paid to avoid artifacts that result from the unavoidable magnetic tipstray field. Control can be achieved by optimizing the MFM operation mode as well asthe tip parameters. It is even possible to use the tip stray field to locally and reproduciblymanipulate the magnetic-moment state of small particles. In this article, we illustratethese concepts and issues by studying various lithographically patterned magneticnanoparticles, thus demonstrating the versatility of MFM for imaging, manipulation, andspectroscopic measurements of small particles.

دانلود کتاب «تصویربرداری، دستکاری و اندازه‌گیری‌های طیف‌سنجی نانومغناطیس‌ها با میکروسکوپ نیروی مغناطیسی»

مبلغی که بابت خرید کتاب می‌پردازیم به مراتب پایین‌تر از هزینه‌هایی است که در آینده بابت نخواندن آن خواهیم پرداخت.

برای دریافت کد تخفیف ۲۰ درصدی این کتاب، ابتدا صفحه اینستاگرام کازرون آنلاین (@kazerun.online ) را دنبال کنید. سپس، کلمه «بلیان» را در دایرکت ارسال کنید تا کد تخفیف به شما ارسال شود.