دانلود کتاب Imaging, Manipulation, and Spectroscopic Measurements of Nanomagnets by Magnetic Force Microscopy (به فارسی: تصویربرداری، دستکاری و اندازهگیریهای طیفسنجی نانومغناطیسها با میکروسکوپ نیروی مغناطیسی) نوشته شده توسط «Zhu X. – Grütter P.»
اطلاعات کتاب تصویربرداری، دستکاری و اندازهگیریهای طیفسنجی نانومغناطیسها با میکروسکوپ نیروی مغناطیسی
موضوع اصلی: الکتریسیته و مغناطیس
نوع: کتاب الکترونیکی
نویسنده: Zhu X. – Grütter P.
زبان: English
فرمت کتاب: pdf (قابل تبدیل به سایر فرمت ها)
سال انتشار: 2004
تعداد صفحه: 6
حجم کتاب: 1 مگابایت
توضیحات کتاب تصویربرداری، دستکاری و اندازهگیریهای طیفسنجی نانومغناطیسها با میکروسکوپ نیروی مغناطیسی
میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM) یک تکنیک به خوبی تثبیت شده برای تصویربرداری از ساختارهای مغناطیسی ذرات کوچک مغناطیسی است. در همکاری با میدان های مغناطیسی خارجی، MFM می تواند برای مطالعه مکانیسم سوئیچینگ مغناطیسی ذرات مغناطیسی به اندازه زیر میکرومتر مورد استفاده قرار گیرد. تکنیک های مختلف MFM اندازه گیری منحنی پسماند یک ذره را امکان پذیر می کند، که سپس می تواند با اندازه گیری های مجموعه مقایسه شود. مزیت استفاده از حلقههای پسماند ساختهشده توسط MFM این است که اصولاً میتوان منشأ پراکندگی در میدانهای سوئیچینگ را درک کرد. همچنین امکان مشاهده مستقیم همبستگی بین ذرات مغناطیسی از طریق تصویربرداری دقیق و کنترل میدان مغناطیسی خارجی وجود دارد. در تمام این اندازهگیریها، باید توجه شود تا از مصنوعات ناشی از میدان مغناطیسی اجتنابناپذیر اجتناب شود. کنترل را می توان با بهینه سازی حالت عملکرد MFM و همچنین پارامترهای نوک به دست آورد. حتی می توان از میدان سرگردان نوک برای دستکاری موضعی و بازتولید حالت ممان مغناطیسی ذرات کوچک استفاده کرد. در این مقاله، ما این مفاهیم و مسائل را با مطالعه نانوذرات مغناطیسی با الگوی لیتوگرافی مختلف نشان میدهیم، بنابراین تطبیق پذیری MFM برای تصویربرداری، دستکاری، و اندازهگیریهای طیفسنجی ذرات کوچک را نشان میدهیم.

برای دریافت کد تخفیف ۲۰ درصدی این کتاب، ابتدا صفحه اینستاگرام کازرون آنلاین (@kazerun.online ) را دنبال کنید. سپس، کلمه «بلیان» را در دایرکت ارسال کنید تا کد تخفیف به شما ارسال شود.