diffractometry
پراش سنجی و توپوگرافی اشعه ایکس با وضوح بالا
دانلود کتاب High resolution X-ray diffractometry and topography (به فارسی: پراش سنجی و توپوگرافی اشعه ایکس با وضوح بالا) نوشته شده توسط «D.K. Bowen – Brian K. Tanner» اطلاعات کتاب پراش سنجی و توپوگرافی اشعه ایکس با وضوح بالا موضوع اصلی: هنرهای گرافیک نوع: کتاب الکترونیکی ناشر: Taylor & Francis نویسنده: D.K. Bowen – Brian K. Tanner زبان: English فرمت کتاب: pdf (قابل تبدیل به سایر فرمت ها) سال انتشار: 1998 تعداد صفحه: 278 حجم کتاب: 12 مگابایت کد کتاب: 0850667585 , 9780850667585 نوبت چاپ: 1 توضیحات کتاب پراش سنجی و توپوگرافی اشعه ایکس با وضوح بالا استفاده از مواد…
میکروسکوپ الکترونی انتقالی و پراش سنجی مواد
دانلود کتاب Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (به فارسی: میکروسکوپ الکترونی انتقالی و پراش سنجی مواد) نوشته شده توسط «Brent Fultz – James M. Howe» اطلاعات کتاب میکروسکوپ الکترونی انتقالی و پراش سنجی مواد موضوع اصلی: الکترونیک: الکترونیک نوع: کتاب الکترونیکی ناشر: Springer نویسنده: Brent Fultz – James M. Howe زبان: English فرمت کتاب: pdf (قابل تبدیل به سایر فرمت ها) سال انتشار: 2007 تعداد صفحه: 771 حجم کتاب: 14 مگابایت کد کتاب: 3540738851 , 9783540738855 نوبت چاپ: 3rd توضیحات کتاب میکروسکوپ الکترونی انتقالی و پراش سنجی مواد این کتاب مفاهیم میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) و پراش پرتو…
میکروسکوپ الکترونی انتقالی و پراش سنجی مواد
دانلود کتاب Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (به فارسی: میکروسکوپ الکترونی انتقالی و پراش سنجی مواد) نوشته شده توسط «Brent Fultz – James Howe» اطلاعات کتاب میکروسکوپ الکترونی انتقالی و پراش سنجی مواد موضوع اصلی: فیزیک نوع: کتاب الکترونیکی ناشر: Springer نویسنده: Brent Fultz – James Howe زبان: English فرمت کتاب: pdf (قابل تبدیل به سایر فرمت ها) سال انتشار: 2005 تعداد صفحه: 770 حجم کتاب: 46 مگابایت کد کتاب: 9783540437642 , 978-3-540-73885-5 نوبت چاپ: 2nd توضیحات کتاب میکروسکوپ الکترونی انتقالی و پراش سنجی مواد این کتاب درسی مفاهیم میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) و پراش پرتو ایکس (XRD)…
پراش سنجی و توپوگرافی اشعه ایکس با وضوح بالا
دانلود کتاب High resolution X-ray diffractometry and topography (به فارسی: پراش سنجی و توپوگرافی اشعه ایکس با وضوح بالا) نوشته شده توسط «D.K. Bowen – Brian K. Tanner» اطلاعات کتاب پراش سنجی و توپوگرافی اشعه ایکس با وضوح بالا موضوع اصلی: فیزیک نوع: کتاب الکترونیکی ناشر: Taylor & Francis نویسنده: D.K. Bowen – Brian K. Tanner زبان: English فرمت کتاب: pdf (قابل تبدیل به سایر فرمت ها) سال انتشار: 1998 تعداد صفحه: 278 حجم کتاب: 9 مگابایت کد کتاب: 0850667585 , 9780850667585 , 9780203979198 نوبت چاپ: 1 توضیحات کتاب پراش سنجی و توپوگرافی اشعه ایکس با وضوح بالا استفاده از…