فیزیک

قابلیت اطمینان و خرابی مواد و دستگاه های الکترونیکی

Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices

دانلود کتاب Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices (به فارسی: قابلیت اطمینان و خرابی مواد و دستگاه های الکترونیکی) نوشته شده توسط «Milton Ohring»

اطلاعات کتاب قابلیت اطمینان و خرابی مواد و دستگاه های الکترونیکی

موضوع اصلی: فیزیک

نوع: کتاب الکترونیکی

ناشر: Academic Press

نویسنده: Milton Ohring

زبان: English

فرمت کتاب: pdf (قابل تبدیل به سایر فرمت ها)

سال انتشار: 1998

تعداد صفحه: 715

حجم کتاب: 31 مگابایت

کد کتاب: 0-12-524985-3 , 0-12-524985-3 , 978-0-12-524985-0

نوبت چاپ: 1st

توضیحات کتاب قابلیت اطمینان و خرابی مواد و دستگاه های الکترونیکی

این کتاب که به عنوان یک کار مرجع برای متخصصان قابلیت اطمینان یا به عنوان متنی برای دانشجویان پیشرفته کارشناسی یا کارشناسی ارشد مناسب است، خواننده را با ادبیات قابلیت اطمینان گسترده دستگاه‌های میکروالکترونیک و الکترونیکی-اختیاری آشنا می‌کند. قابلیت اطمینان و خرابی مواد و دستگاه‌های الکترونیکی، درمان خرابی‌های سطح تراشه و بسته‌بندی را در چارچوب مکانیسم‌ها و مدل‌های اتمی مورد استفاده برای توضیح تخریب و مدیریت آماری داده‌های طول عمر یکپارچه می‌کند. مهاجرت الکتریکی، آسیب تشعشع دی الکتریک و شکست مکانیکی کنتاکت ها و اتصالات لحیم کاری از جمله مکانیسم های خرابی در نظر گرفته شده است. موضوع اصلی این کتاب به نقص های محصول مربوط می شود – رابطه آنها با عملکرد و قابلیت اطمینان، نقشی که در شکست بازی می کنند، و روشی که به طور تجربی در معرض دید قرار می گیرند. خواننده درک فیزیکی عمیق‌تری از مکانیسم‌های خرابی در مواد و دستگاه‌های الکترونیکی به دست می‌آورد، مهارت‌هایی در مدیریت ریاضی داده‌های قابلیت اطمینان کسب می‌کند، و روندهای فناوری آینده و مسائل مربوط به قابلیت اطمینان را که مطرح می‌کنند بهتر درک می‌کند. ویژگی های کلیدی * در مورد قابلیت اطمینان و خرابی در هر دو سطح تراشه و بسته بندی بحث می کند * نقش نقص در عملکرد و قابلیت اطمینان را بررسی می کند * شامل یک فصل آموزشی در مورد ریاضیات قابلیت اطمینان * تمرکز بر مهاجرت الکتریکی، شکست دی الکتریک، اثرات الکترون داغ، تخلیه الکترواستاتیک، خوردگی، آسیب تشعشع و شکست مکانیکی بسته ها، کنتاکت ها و اتصالات لحیم کاری * روش های تشخیص عیب و تکنیک های تجزیه و تحلیل شکست را در نظر می گیرد.

Suitable as a reference work for reliability professionals or as a text for advanced undergraduate or graduate students, this book introduces the reader to the widely dispersed reliability literature of microelectronic and electronic-optional devices. Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices integrates a treatment of chip and packaging level failures within the context of the atomic mechanisms and models used to explain degradation, and the statistical handling of lifetime data. Electromigration, dielectric radiation damage and the mechanical failure of contacts and solder joints are among the failure mechanisms considered. An underlying thread of the book concerns product defects–their relation to yield and reliability, the role they play in failure, and the way they are experimentally exposed. The reader will gain a deeper physical understanding of failure mechanisms in electronic materials and devices, acquire skills in the mathematical handling of reliability data, and better appreciate future technology trends and the reliability issues they raise. Key Features * Discusses reliability and failure on both the chip and packaging levels * Handles the role of defects in yield and reliability * Includes a tutorial chapter on the mathematics of reliability * Focuses on electromigration, dielectric breakdown, hot-electron effects, electrostatic discharge, corrosion, radiation damage and the mechanical failure of packages, contacts, and solder joints * Considers defect detection methods and failure analysis techniques

دانلود کتاب «قابلیت اطمینان و خرابی مواد و دستگاه های الکترونیکی»

مبلغی که بابت خرید کتاب می‌پردازیم به مراتب پایین‌تر از هزینه‌هایی است که در آینده بابت نخواندن آن خواهیم پرداخت.

برای دریافت کد تخفیف ۲۰ درصدی این کتاب، ابتدا صفحه اینستاگرام کازرون آنلاین (@kazerun.online ) را دنبال کنید. سپس، کلمه «بلیان» را در دایرکت ارسال کنید تا کد تخفیف به شما ارسال شود.

برچسب ها
مبلغی که بابت خرید کتاب می‌پردازیم به مراتب پایین‌تر از هزینه‌هایی است که در آینده بابت نخواندن آن خواهیم پرداخت.
کتابخانه دیجیتال بَلیان