دانلود کتاب Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and nanoscratching: application to rough and natural surfaces (به فارسی: میکروسکوپ نیروی اتمی، اسکن میکروسکوپ نوری میدان نزدیک و نانو خراش: کاربرد در سطوح ناهموار و طبیعی) نوشته شده توسط «Gerd Kaupp»
اطلاعات کتاب میکروسکوپ نیروی اتمی، اسکن میکروسکوپ نوری میدان نزدیک و نانو خراش: کاربرد در سطوح ناهموار و طبیعی
موضوع اصلی: فیزیک
نوع: کتاب الکترونیکی
ناشر: Springer
نویسنده: Gerd Kaupp
زبان: English
فرمت کتاب: pdf (قابل تبدیل به سایر فرمت ها)
سال انتشار: 2006
تعداد صفحه: 302
حجم کتاب: 18 مگابایت
کد کتاب: 3540284052 , 9783540284055
نوبت چاپ: 1
توضیحات کتاب میکروسکوپ نیروی اتمی، اسکن میکروسکوپ نوری میدان نزدیک و نانو خراش: کاربرد در سطوح ناهموار و طبیعی
با ایجاد تمایز واضح بین آزمایش‌های نانو و میکرومکانیکی به دلایل فیزیکی، این مونوگراف اصول و کاربردهای ابر میکروسکوپی‌های AFM و SNOM و آزمایش‌های نانومکانیکی بر روی سطوح طبیعی ناهموار و فنی در محدوده زیر میکرون را شرح می‌دهد. تا وضوح جانبی چند نانومتر. ابزار دقیق جدید یا بهبود یافته، قوانین فیزیکی جدید و کاربردهای جدید پیش بینی نشده در تمام شاخه های علوم طبیعی (در زمینه فیزیک، شیمی، کانی شناسی، علم مواد، زیست شناسی و پزشکی) و فناوری نانو و همچنین منابعی برای مشکلات و خطاها پوشش داده شده است. این روش کار با نمونه‌های طبیعی و فنی را در رابطه با نمونه‌های استاندارد تخت نشان می‌دهد و بر ویژگی‌های خاص جدید تأکید می‌کند. مشکلات و منابع خطاها و همچنین درمان کارآمد آنها هنگام رفتن از سطوح مولکولی صاف به سطوح ناهموار به وضوح نشان داده شده است. دانشمند دانشگاهی یا صنعتی می آموزد که چگونه اصولی را برای مقابله با وظایف علمی یا تولیدی خود که شامل ناهمواری های بسیار دور از نمونه های استاندارد است، به کار گیرد.
Making a clear distinction is made between nano- and micro-mechanical testing for physical reasons, this monograph describes the basics and applications of the supermicroscopies AFM and SNOM, and of the nanomechanical testing on rough and technical natural surfaces in the submicron range down to a lateral resolution of a few nm. New or improved instrumentation, new physical laws and unforeseen new applications in all branches of natural sciences (around physics, chemistry, mineralogy, materials science, biology and medicine) and nanotechnology are covered as well as the sources for pitfalls and errors. It outlines the handling of natural and technical samples in relation to those of flat standard samples and emphasizes new special features. Pitfalls and sources of errors are clearly demonstrated as well as their efficient remedy when going from molecularly flat to rough surfaces. The academic or industrial scientist learns how to apply the principles for tackling their scientific or manufacturing tasks that include roughness far away from standard samples.
برای دریافت کد تخفیف ۲۰ درصدی این کتاب، ابتدا صفحه اینستاگرام کازرون آنلاین (@kazerun.online ) را دنبال کنید. سپس، کلمه «بلیان» را در دایرکت ارسال کنید تا کد تخفیف به شما ارسال شود.