Sekundärionen- und Neutralteilchenmassenspektrometrie an oxidischen Dünnschichtsystemen : Der Einfluß ionenbeschußindizierter Prozesse auf die Sekundärteilchenemission im Zerstäubungsgleichgewicht und an Schichtgrenzflächen

معرفی کتاب «Sekundärionen- und Neutralteilchenmassenspektrometrie an oxidischen Dünnschichtsystemen : Der Einfluß ionenbeschußindizierter Prozesse auf die Sekundärteilchenemission im Zerstäubungsgleichgewicht und an Schichtgrenzflächen» نوشتهٔ Dieter Lipinsky (auth.)، منتشرشده توسط نشر Deutscher Universitäts Verlag در سال 1995. این کتاب در فرمت pdf، زبان آلمانی ارائه شده است.

Front Matter....Pages I-2 Einleitung....Pages 3-5 Theoretische Grundlagen....Pages 6-43 Apparaturbeschreibung....Pages 44-67 Probensysteme und Meßablauf....Pages 68-78 Messungen an Oxiden im Zerstäubungsgleichgewicht....Pages 79-110 Tiefenprofilanalyse oxidischer Schichtsysteme....Pages 111-177 Zusammenfassung und Ausblick....Pages 178-180 Back Matter....Pages 181-211

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