Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия

Часть 1. Элементы кристаллографии и основы дифракционных методов исследования Раздел I. Кристаллография 1. Основные закономерности строения кристаллов 2. Симметрия кристаллов 3. Уравнения структурной кристаллографии 4. Элементы кристаллохимии Раздел II. Взаимодействие с веществом и теория рассеяния кристаллами рентгеновских лучей 5. Рентгеновские спектры 6. Рассеяние рентгеновских лучей кристаллами. Основные уравнения дифракции 7. Интенсивность интерференционных максимумов 8. Диффузное рассеяние рентгеновских лучей Раздел III. Основы рентгеноструктурного анализа 9. Основные методы рентгеноструктурного анализа 10. Фазовый анализ. Определение кристаллической структуры вещества 11. Применение дифракции электронов и нейтронов в структурном анализе 12. Анализ структуры аморфных веществ и металлических расплавов Часть 2. Рентгенографические и электронно-оптические исследования материалов Раздел I. Рентгенографический анализ литых, деформированных и отожженных материалов 13. Рентгенографический анализ преимущественных ориентировок (текстур) 14. Анализ структурных изменений в металлах при деформации и последующем отжиге 15. Рентгеновская дифракционная микроскопия (РДМ) Раздел II. Рентгенографический анализ сплавов 16. Анализ твердых растворов 17. Построение диаграмм фазового равновесия 18. Рентгеновский анализ структурных изменений при термической обработке сталей и других сплавов Раздел III. Электронно-оптические методы анализа несовершенств кристаллического строения, фазового и химического составов сплавов 19. Взаимодействие электронов с веществом 20. Просвечивающая электронная микроскопия 21. Применение просвечивающей (дифракционной) электронной микроскопии 22. Растровая электронная микроскопия 23. Электронно-оптические исследования элементного химического состава микрообъемов и тонких поверхностных слоев