Атомно-силовая микроскопия для нанотехнологии и диагностики: учебное пособие для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям подготовки 210100 "Электроника и микроэлектроника" и 210600 "Нанотехнологии"
معرفی کتاب «Атомно-силовая микроскопия для нанотехнологии и диагностики: учебное пособие для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям подготовки 210100 "Электроника и микроэлектроника" и 210600 "Нанотехнологии"» نوشتهٔ Мошников В.А., Спивак Ю.М.، منتشرشده توسط نشر Изд-во СПбГЭТУ "ЛЭТИ" در سال 2009. این کتاب در فرمت pdf، زبان ru ارائه شده است.
Учеб. пособие СПб.: Изд-во СПбГЭТУ ЛЭТИ, 2009, 80 с. ISBN 978-5-7629-0908-8 Рассматриваются различные методы сканирующей зондовой микроскопии и их применение в нанотехнологии и диагностике Предназначено для студентов. обучающихся по магистерским образовательным программам "Нанотехнология и диагностика", "Нано-и микросистемная техника". Гриф УМО вузов РФ по образованию в области радиотехники, электроники, биомедицинской техники и автоматизации в качестве учебного пособия для студентов вузов, обучающихся по направлениям подготовки 210100 "электроника и микроэлектроника" и 210600 "Нанотехнология"
دانلود کتاب Атомно-силовая микроскопия для нанотехнологии и диагностики: учебное пособие для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям подготовки 210100 "Электроника и микроэлектроника" и 210600 "Нанотехнологии"