
دانلود کتاب X-Ray Scattering from Semiconductors (به فارسی: پراکندگی اشعه ایکس از نیمه هادی ها) نوشته شده توسط «Paul F. Fewster»
اطلاعات کتاب پراکندگی اشعه ایکس از نیمه هادی ها
موضوع اصلی: الکترونیک: رادیو
نوع: کتاب الکترونیکی
ناشر: Imperial College Press
نویسنده: Paul F. Fewster
زبان: English
فرمت کتاب: pdf (قابل تبدیل به سایر فرمت ها)
سال انتشار: 2003
تعداد صفحه: 314
حجم کتاب: 8 مگابایت
کد کتاب: 9781860943607 , 1-86094-360-8
نوبت چاپ: 2nd ed
توضیحات کتاب پراکندگی اشعه ایکس از نیمه هادی ها
فیوستر (مرکز تحقیقات تحلیلی فیلیپس، انگلستان) روش های پراکندگی اشعه ایکس مورد استفاده برای تجزیه و تحلیل ساختاری طیف وسیعی از مواد نیمه هادی را مورد بحث قرار می دهد و بر آن دسته از ویژگی های ساختاری که بر خواص فیزیکی تأثیر می گذارد تأکید می کند. این متن ویژگیهای ساختاری اولیه مواد، نظریه پراکندگی اشعه ایکس، اصول ابزار دقیق، و تعدادی از نمونههای آنالیز را پوشش میدهد. بخش تجزیه و تحلیل مواد نیمه هادی حجیم، ساختارهای چند لایه نیمه هادی تقریباً کامل، ساختارهای موزاییکی، ساختارهای چند لایه تا حدی آرام، چند لایه ناهمگن جانبی، نیمه هادی های چندبلور بافت دار، و مواد پلی کریستالی تقریباً کامل را پوشش می دهد.
دانلود کتاب «پراکندگی اشعه ایکس از نیمه هادی ها»

📖 خرید این کتاب
برای دریافت فایل و اطلاع از قیمت، روی یکی از دکمههای زیر کلیک کنید تا پیام آماده برای شما ارسال شود:
پس از ارسال پیام، قیمت و لینک دریافت فایل در اسرع وقت برای شما ارسال خواهد شد.